Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2014
Аннотация: Представлены результаты исследования структурных и магнитных свойств наноструктур (Fe/Si) N, полученных при последовательном напылении на поверхность SiO 2/Si(100) при температуре подложки 300 K. Измерения методом просвечивающей электронной микроскопии позволили определить толщины всех слоев Fe и Si. Магнитные свойства исследованы Показать полностьюметодом рентгеновского магнитного кругового дихроизма (XMCD) вблизи L 3, 2 -краев поглощения Fe. Разделены орбитальный (m l ) и спиновый (m S ) вклады в полный магнитный момент железа. С использованием поверхностной чувствительности метода XMCD и модели интерфейса из немагнитной и ослабленной магнитной фаз, определены толщины магнитного и немагнитного силицида Fe на интерфейсах Si/Fe и Fe/Si.
Журнал: Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
Выпуск журнала: Т. 99, № 11-12
Номера страниц: 817-823
ISSN журнала: 0370274X
Место издания: Москва
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"