Полный текст публикации: Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si) N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Полный текст публикации: Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si) N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок: