Полный текст публикации: Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1134/S1063784212090241 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Web of Science Core Collection (вверху кнопка «Полный текст от издателя») (если при открытии ссылки возникла ошибка, то попробуйте открыть ссылку повторно)
  4. Scopus (вверху ссылка «Скачать»)
  5. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации