Полный текст публикации: RECOMBINATION EFFICIENCY OF RADIATION DEFECTS IN SILICON FORMED BY NEUTRON AND ELECTRON-BOMBARDMENT

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. Web of Science Core Collection (вверху кнопка «Полный текст от издателя») (если при открытии ссылки возникла ошибка, то попробуйте открыть ссылку повторно)
  2. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации