Полный текст публикации: Detection of homogeneous production batches of semiconductor devices by greedy heuristic clustering algorithms with special distance metrics : статья в сборнике трудов конференции

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  2. Scopus (вверху ссылка «Скачать»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации