Detection of homogeneous production batches of semiconductor devices by greedy heuristic clustering algorithms with special distance metrics : статья в сборнике трудов конференции

Описание

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: II INTERNATIONAL SCIENTIFIC CONFERENCE "ADVANCED TECHNOLOGIES IN AEROSPACE, MECHANICAL AND AUTOMATION ENGINEERING"; Красноярск; Красноярск

Год издания: 2020

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: IOP CONFERENCE SERIES: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING

Издатель: Institute of Physics and IOP Publishing Limited

Персоны

Вхождение в базы данных