1. Главная
  2. Полный текст публикации: Effect of Treatment Conditions of Capacitor Structures Based on Porous Silicon and Ferroelectric on Their Dielectric Losses in the HF and Microwave Ranges : научное издание

Полный текст публикации: Effect of Treatment Conditions of Capacitor Structures Based on Porous Silicon and Ferroelectric on Their Dielectric Losses in the HF and Microwave Ranges : научное издание

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1134/s0040579523040255 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации