Полный текст публикации: Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO2/Si(111)

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  2. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации