Полный текст публикации: Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films : научное издание

Телефон: +7 (391) 291-28-63
E-mail: sppa [at] sfu-kras [dot] ru

Служба поддержки публикационной активности СФУ

Целью службы является создание условий для увеличения количества и повышения качества публикаций научно-педагогических работников СФУ.

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

DOI 10.1016/j.apsusc.2005.07.039 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
Поиск в Академии Google