Перевод названия: Analysis of Fe?Si layered structures by reflected electron energy loss spectroscopy and inelastic scattering cross-section
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2009
Ключевые слова: спектроскопия потерь энергии отраженных электронов, сечение неупругого рассеяния, средняя длина неупругого свободного пробега электрона, reflected electron energy loss spectroscopy, inelastic scattering cross-section, mean length of the inelastic free path of an electron
Аннотация: В работе представлено исследование формирования интерфейса слоистых структур системы Fe-Si методом спектроскопии потерь энергии отраженных электронов. Количественный элементный анализ осуществлен с использованием произведения средней длины неупругого свободного пробега на сечение неупругого рассеяния электронов. Показано, что интерПоказать полностьюфейс Fe-Si достаточно однороден. This paper reports on our study of the formation of an interface of layered structures in the Fe-Si system by reflected electron energy loss spectroscopy (REELS). Quantitative element analysis was performed using the product of the mean length of the inelastic free path by the inelastic scattering cross-section of electrons. It is shown that the Fe-Si interface is quite uniform.
Журнал: Журнал структурной химии
Выпуск журнала: Т. 50, № 3
Номера страниц: 451-455
ISSN журнала: 01367463
Место издания: Новосибирск
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук