Перевод названия: Application of Scanning Electron Microscopy in Material Science
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2009
Ключевые слова: scanning electron microscopy, microstructure, x-ray microanalysis, сканирующая электронная микроскопия, микроструктура, микрорентгеноспектральный анализ
Аннотация: Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соеПоказать полностьюдинений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия. Some aspects of application of scanning electron microscopy and X-ray microanalysis to study materials were considered. Capabilities of JSM 7001F scanning electron microscope of JEOL Company with a set of Oxford Instruments (UK) microanalyzers were demonstrated using diffusive compositions of heterogeneous compounds, silver electrical contacts as well as an aluminum alloy.
Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия
Выпуск журнала: Т. 2, № 4
Номера страниц: 287-293
ISSN журнала: 19982836
Место издания: Красноярск
Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет