Методология мутационного тестирования для наземных испытаний бортовой аппаратуры космических аппаратов

Описание

Перевод названия: MUTATION TEST METODOLOGY FOR ONBOARD SPACECRAFTS RADIOELECTRONIC EQUIPMENT GROUND TEST

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2014

Идентификатор DOI: 10.14357/08696527140104

Ключевые слова: комплекс, complexes, mutation testing, Hardware description languages, ground test, equipment, мутационное тестирование, языки описания аппаратуры, наземные испытания, аппаратура

Аннотация: Рассматриваются методы повышения эффективности форми рования тестов, используемых при проведении наземных испытаний бортовой аппаратуры космических аппаратов. Предложен подход, позволяющий применять мутационное тестирование для аппаратно-программных средств, разрабатываемых на основе динамически реконфигурируемых интегральных схем.Показать полностьюРассмотрены два способа моделирования аппаратных мутаций для тестирования. Первый подход основан на классическом использовании средств автоматизации моделирования электронных приборов (EDA - electronic design automation) с автоматическим формированием пакетов тестов. Второй способ использования мутационного тестирования может опираться на применение динамически реконфигурируемых архитектур в аппаратной части проектируемого устройства в сочетании с программными средствами, имитирующими логику работы реального объекта испытаний. Описаны особенности создания аппаратной и программной составляющих тестовых комплексов, разрабатываемых на основе предлагаемой методики. Определены основные пути развития предлагаемого подхода. Improving methods of tests developing effectiveness that are applied in onboard spacecrafts radioelectronic equipment ground test are considered. The approach that allows using mutation testing for hardware and software tools, based on Field-Programmable Gate Arrays is suggested. Two ways of hardware mutations modeling for testing are considered. The first approach is based on classical use of electronic design automation systems with automatic test suites generation. The second approach of mutation testing application can use dynamically reconfigurable architectures (field-programmable gate arrays) in hardware of developed device in combination with software that imitates logic of real test object. The features of hardware and software components of developed test complexes based on the proposed method are described. General ways of introduced approach advance are specified.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Системы и средства информатики

Выпуск журнала: Т. 24, 1

Номера страниц: 73-79

ISSN журнала: 08696527

Место издания: Москва

Издатель: Федеральное государственное учреждение "Федеральный исследовательский центр "Информатика и управление" Российской академии наук

Персоны

Вхождение в базы данных