Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2025
Идентификатор DOI: 10.31857/S0367676525040032
Ключевые слова: ferromagnetic film, aluminum oxide, exchange bias, interface, ферромагнитная пленка, оксид алюминия, обменное смещение, интерфейс
Аннотация: Изучены пленки кобальта, осажденные магнетронным методом на аморфный слой Al2O3. Исследованы морфологические и магнитные особенности, связанные с образованием естественно окисленной антиферромагнитной пленки на кобальте и с интерфейсом Al2O3/Co. Обнаружено изменение знака обменного смещения при температуре ниже 200 K, при увеличении толщины слоя кобальта более 10 нм на пленке Al2O3. We studied cobalt films deposited by the magnetron method on an amorphous Al2O3 layer. The morphological and magnetic features associated with the formation of a naturally oxidized antiferromagnetic film on cobalt and the Al2O3/Co interface were studied. A change in the sign of the exchange bias at temperatures below 200 K was detected when the thickness of the cobalt layer on the Al2O3 film increased to more than 10 nm.
Журнал: Известия Российской академии наук. Серия физическая
Выпуск журнала: Т. 89, № 4
Номера страниц: 522-527
ISSN журнала: 03676765
Место издания: Москва
Издатель: Российская академия наук