Characterization of the electrical properties of semimetallic Bi films by electrical field effect : научное издание

Служба поддержки публикационной активности СФУ

Целью службы является создание условий для увеличения количества и повышения качества публикаций научно-педагогических работников СФУ.

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 1997

Журнал: Journal of Applied Physics

Выпуск журнала: Т. 82, № 3

Номера страниц: 1266-1273

ISSN журнала: 00218979

Издатель: American Institute of Physics

Butenko A.V. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Sandomirsky V. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Schlesinger Y. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Shvarts D. (Jack Pearl Resnik Inst. Adv. T.,Department of Physics,Bar-Ilan University)
Sokol V.A. (Belarusian State Univ. Info. R.)