Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2025

Идентификатор DOI: 10.61011/JTF.2025.01.59465.224-24

Ключевые слова: silver nanowires, AgNW, shielding efficiency, thin films, electrical properties, optical properties, серебряные нанопроволоки, коэффициент экранирования, тонкие пленки, электрические свойства, оптические свойства

Аннотация: Описаны процесс получения серебряных нанопроволок (AgNW) и методика изготовления тонких пленок на их основе методом вакуумной фильтрации. Толщина пленок задавалась объемом базовой дисперсии. С целью улучшения физико-механических и адгезионных свойств пленок AgNW были интегрированы в полиуретановую подложку. Проведены комплексные исследования морфологии и структуры как единичных AgNW, так и их пленок. Исследование оптоэлектрических характеристик показало, что пленки AgNW обладают равномерным пропусканием в видимом диапазоне свыше 500 nm. Также были изучены радиоэкранирующие свойства пленочных структур в K- и K_a-диапазонах. Показано, что пленки AgNW имеют высокий коэффициент экранирования, составляющий более 25 dB во всем исследуемом частотном диапазоне, при этом оптическое пропускание на длине волны 550 nm составило 69.25%. This paper describes the process of obtaining silver nanowires (AgNW) and the technique for producing thin films on their basis using vacuum filtration. The film thickness was specified by the volume of the base dispersion. In order to improve the physical, mechanical and adhesive properties of the films, AgNW were integrated into a polyurethane substrate. Comprehensive studies of the morphology and structure of both individual AgNWs and their films were conducted. The study of the optoelectric characteristics showed that the AgNW films have a uniform transmittance in the visible range above 500 nm. The radio shielding properties of the film structures in the K and Ka ranges were also studied. It was shown that the AgNW films have a high shielding coefficient of more than 25 dB in the entire studied frequency range, while the optical transmittance at a wavelength of 550 nm was 69.25%.

Журнал: Журнал технической физики

Выпуск журнала: Т. 95, № 1

Номера страниц: 98-106

ISSN журнала: 00444642

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Российская академия наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

• Воронин А.С. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)
• Бриль И.И. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)
• Фадеев Ю.В. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)
• Павликов А.Ю. (Сибирский федеральный университет)
• Симунин М.М. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)
• Волочаев М.Н. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН)
• Говорун И.В. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН)
• Подшивалов И.В. (Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН)
• Макеев М.О. (Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Национальный исследовательский университет))
• Михалев П.А. (Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Национальный исследовательский университет))
• Паршин Б.А. (Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (Национальный исследовательский университет))
• Хартов С.В. (Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН)

• Ядро РИНЦ (eLIBRARY.RU)
• Список ВАК