Тип публикации: патент
Год издания: 2025
Аннотация: Изобретение относится к вычислительной технике. Технический результат заключается в повышении живучести, безотказности и долговечности разрабатываемых устройств (РУ). Способ разработки устройств интерфейса Serial Peripheral Interface (SPI), заключающийся в том, что разрабатывают устройство SPI; на основе аппаратных модулей создают полунатурные модели (ПМ) ранее разработанных устройств SPI; в проекты разработанных ПМ устройств SPI намеренно вносят неисправности длительности синхросигналов и соединяют все разработанные модели между собой и с устройствами SPI, которые являются объектами разработки и испытаний; проводят испытания без внесения неисправностей длительности синхросигналов с целью оценки правильности функционирования объектов разработки и испытаний, после чего проводят испытания при намеренно внесенных неисправностях ПМ с целью оценки правильности функционирования объектов разработки и испытаний с присутствием неисправностей; если РУ SPI, после приема электрических сигналов, содержащих неисправности синхросигналов, функционирует неправильно, то дорабатывают РУ SPI и снова повторяют процесс испытаний с проведением соответствующего контроля измерением электрических сигналов до тех пор, пока оно не будет функционировать правильно. FIELD: computer engineering. SUBSTANCE: method of developing Serial Peripheral Interface (SPI) devices, comprising developing an SPI device; based on hardware modules, creating semi-natural models (SM) of previously developed SPI devices; in projects of developed SM of SPI devices, faults of duration of clock signals are deliberately introduced and all developed models are connected to each other and to SPI devices, which are objects of development and testing; tests are performed without introducing faults of duration of clock signals in order to assess the correct functioning of development and test objects, after which tests are carried out with intentionally introduced faults of the SM in order to assess the correct functioning of development and test objects with presence of faults; if the developed SPI device (DD), after receiving electrical signals containing faulty clock signals, does not function properly, then the SPI DD is modified and the test process is repeated again with corresponding control by measuring electrical signals until it functions correctly. EFFECT: increased survivability, reliability and durability developed devices. 1 cl