Библиотека расчёта микроскопических полей на основе данных модели ExDIM : регистрация программы для ЭВМ

Описание

Тип публикации: патент

Год издания: 2024

Аннотация: Программа предназначена для расчёта микроскопических полей наночастицы на основе дипольных моментов, полученных методом ExDIM. Программа может применяться в области оптических и квантово-химических расчетов. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации, проект FSRZ-2023-000Показать полностью6.

Ссылки на полный текст

Вхождение в базы данных