Тип публикации: патент
Год издания: 2024
Аннотация: Программа предназначена для расчёта микроскопических полей наночастицы на основе дипольных моментов, полученных методом ExDIM. Программа может применяться в области оптических и квантово-химических расчетов. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации, проект FSRZ-2023-000Показать полностью6.