ПРИМЕНЕНИЕ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА ДЛЯ АНАЛИЗА СТРУКТУРЫ АЛМАЗНЫХ ПОКРЫТИЙ НА ТВЕРДОМ СПЛАВЕ : научное издание

Описание

Перевод названия: RAMAN SPECTROSCOPY APPLICATION FOR ANALYZING DIAMOND COATINGS ON HARD ALLOY

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2017

Ключевые слова: алмаз, осаждение из газовой фазы, плазмохимический сверхвысокочастотный реактор, микро- и нанокристаллические пленки, комбинационное рассеяние, фотолюминесценция, трение, поверхностное разрушение, diamond, Vapor deposition, microwave plasma-chemical reactor, micro- and nanocrystalline films, Raman scattering, photoluminescence, friction, surface destruction

Аннотация: Осаждением в сверхвысокочастотной плазме из смесей метан-водород и метан-водород-азот получены одно- и многослойные микро- и нанокристаллические алмазные покрытия на резцах из твердого сплава ВК6 (карбид вольфрама с присадкой кобальта; WC + 6 мас.% Co) с применением улучшающих адгезию барьерных слоев из вольфрама. Методом спектроскПоказать полностьюопии комбинационного рассеяния света исследованы изменения структуры алмазных покрытий в зависимости от параметров осаждения. Получены данные о степени их структурной перестройки при различных условиях трибологического контакта и изучены процессы вторичного зародышеобразования на разных гранях алмаза в процессе осаждения из газовой фазы. The single- and multilayer coatings of micro- and nanocrystalline diamond were deposited on cemented carbide substrates (WC + 6 wt.% Co alloy) in a microwave plasma of methane-hydrogen and methane-hydrogen-nitrogen mixtures. The barrier tungsten layers were used to improve adhesion of the diamond coatings on the substrates. Raman spectroscopy was used to study properties of the nano- and microcrystalline diamond coatings depending on the deposition parameters. Data on structural transformations of the coatings under different tribological contact conditions were obtained, and the secondary nucleation processes on different diamond faces during the deposition from the gas phase were investigated.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Журнал прикладной спектроскопии

Выпуск журнала: Т. 84, 2

Номера страниц: 295-302

ISSN журнала: 05147506

Место издания: Минск

Издатель: Государственное научное учреждение Институт физики им. Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси

Персоны

  • Хомич А.А. (Институт общей физики им. А. М. Прохорова Российской АН)
  • Ашкинази Е.Е. (Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ)
  • Ральченко В.Г. (Харбинский технологический институт)
  • Седов В.С. (Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ)
  • Хмельницкий Р.А. (Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской АН)
  • Поклонская О.Н. (Белорусский государственный университет)
  • Козлова М.В. (Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова)
  • Хомич А.В. (Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ)

Вхождение в базы данных