Год издания: 2023
Ключевые слова: кристаллическая структура, кристаллография, метод индексирования в кристаллах, кристаллографическая символика, многогранники кристаллические, симметрия, решетки Бравэ, металлы, кристаллические структуры, металлография, оптическая микроскопия, микрошлифы для оптического микроскопа, кристаллизация металлов и сплавов, эвтектическая кристаллизация металлов, строение эвтектик, двойные сплавы, микроструктура, микротвердость сплавов, измерение
Аннотация: Представлены основы кристаллографии, принципы индексирования узлов, направлений и плоскостей в кубической и гексагональной сингониях. Даны теоретические сведения об основных методиках приготовления макро- и микрошлифов металлов и сплавов. Рассмотрены устройство и последовательность операций при работе на световом оптическом микроскПоказать полностьюопе и при-боре для замера микротвердости ПМТ-3. Изложены главные принципы формирования равновесной и неравновесной структур двухкомпонентных сплавов и рекомендации по исследованию их структур. Приведены некоторые методики количественной металлографии, применяемые при работе на световом микроскопе. Предназначено для бакалавров направления 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов» (профиль 22.03.01.07 «Материаловедение и технологии материалов в машиностроении») и специалистов, занимающихся исследованием макро- и микроструктуры металлов и сплавов.
Место издания: Красноярск