IBIS Models Based on Experimental Data Experimental Study of I-V Characteristics of Digital Integrated Circuits

Описание

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON); Omsk, RUSSIA; Omsk, RUSSIA

Год издания: 2015

Ключевые слова: IBIS models, signal integrity

Аннотация: In this work we discuss experimental methods of IBIS models creation. The main attention is paid to interpretation of measured I-V curves of digital integrated circuits input and output buffers. Coupled with simulations, the experimental methodology can significantly reduce complexity and time for IBIS models generation.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: 2015 INTERNATIONAL SIBERIAN CONFERENCE ON CONTROL AND COMMUNICATIONS (SIBCON)

Место издания: NEW YORK

Издатель: IEEE

Персоны

Вхождение в базы данных