Тип публикации: патент

Год издания: 1992

Аннотация: Изобретение относится к технике СВЧ- измерений и может быть использовано для исследования физических свойств диэлектрических материалов в диапазоне сверхвысоких частот. Цель изобретения - повышение точности измерения.

• Сусляев Валентин Иванович (Национальный исследовательский Томский государственный университет)
• Кириченко В.И.
• Журавлев В.А. (Национальный исследовательский Томский государственный университет)
• Тюрнев В.В.
• Беляев Б.А.

• РИНЦ (eLIBRARY.RU)