Тип публикации: диссертация
Год издания: 2020
Ключевые слова: магнитооптическая эллипсометрия, ферромагнетик, наноструктуры, тонкие пленки, коэффициенты отражения
Аннотация: Разработанные модели можно применить как для исследовательских целей, так и в прикладных задачах по контролю качества продукции микроэлектронной промышленности, где используются многослойные эпитаксиальные и поликристаллические ферромагнитные структуры, например, в производстве энергонезависимой магнитной памяти для ЭВМ, высокочувсПоказать полностьютвительных датчиков магнитного поля на эффекте гигантского магнетосопротивления или высококачественных СВЧ-фильтров с высокой добротностью и узкой полосой пропускания.