Тип публикации: диссертация
Год издания: 2015
Ключевые слова: сбоеустойчивость, система на кристалле, микропроцессор, инъектирование, сбой, плис, отладка
Аннотация: Цель: развитие технологии тестирования сбоеустойчивости с помощью инъектирования одиночных сбоев для микропроцессоров типа «система на кристалле». Разработана аппаратно-программная система инъектирования сбоев для тестирования на сбоеустойчивость микропроцессора LEON3, что позволило испытать функционал сбоеустойчивости процессорногПоказать полностьюо модуля МКА «ТаблетСат-Аврора». Результаты могут быть использованы на предприятиях электронной промышленности, разрабатывающих электронную компонентную базу для космического применения.