Полный текст публикации: The development of logic-probabilistic reliability model of the main electrical scheme : доклад, тезисы доклада

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1088/1742-6596/2373/7/072005 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации