Разработка метода неразрушающей in situ эллипсометрической диагностики наноматериалов в широком диапазоне температур : описание проекта

Описание

Год издания: 2014

Аннотация: 1 Методика неразрушающей in situ эллипсометрической диагностики в широком диапазоне температур (83 – 1300 K).<br />?2 Макет манипулятора-держателя, обеспечивающего шлюзовую загрузку исследуемых структур и позволяющего проводить эллипсометрическую диагностику в широком диапазоне температур.<br />?3 Эскизная конструкторская документаПоказать полностьюция на макет манипулятора-держателя, обеспечивающего шлюзовую загрузку исследуемых структур и позволяющего проводить эллипсометрическую диагностику в широком диапазоне температур.<br />?4 Проект технического задания на проведение ОТР по теме: «Разработка технологии создания магнитных гибридных наноструктур ферромагнитный металл/полупроводник для использования в перспективных устройствах спиновой электроники».

Ссылки на полный текст

Вхождение в базы данных