Тип публикации: патент
Год издания: 2023
Аннотация: Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля качества магнитных пленок и изучения их высокочастотных характеристик путем регистрации спектральной плотности амплитуды шумов образцов. Устройство содержит параллельный колебательный контур, включающий емкость и индуктивность, в качестве которой используется несимметричная полосковая линия. Внутри линии размещают исследуемый образец тонкой магнитной пленки, а сама линия вместе с образцом размещены внутри магнитной системы, формирующей постоянное магнитное поле. Параллельный колебательный контур соединен через конденсатор с СВЧ-генератором и напрямую с амплитудным детектором, нагруженным на вход низкочастотного анализатора спектра. Техническим результатом является обеспечение возможности измерения магнитных шумов в СВЧ-диапазоне. 4 ил.
FIELD: measuring technology. SUBSTANCE: invention is intended for non-destructive quality control of magnetic films and the study of their high-frequency characteristics by recording the spectral density of noise amplitude of the samples. The device contains a parallel oscillatory circuit, including capacitance and inductance, which is used as an unbalanced strip line. A sample of a thin magnetic film under study is placed inside the line, and the line itself, together with the sample, is placed inside a magnetic system that forms a constant magnetic field. The parallel oscillatory circuit is connected through a capacitor to a microwave generator and directly to an amplitude detector loaded at the input of a low-frequency spectrum analyser. EFFECT: enabling the possibility of measuring magnetic noise in the microwave range. 1 cl, 4 dwg