Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2020
Идентификатор DOI: 10.17516/1999-494X-0278
Ключевые слова: thermophysical parameters, optoelectronic systems, technology of thermal tomography, information characteristic, теплофизические параметры, оптико-электронные системы, технология тепловой томографии, информационный признак
Аннотация: В статье представлена модель расчета теплофизических параметров материалов по данным многоспектральной разновременной фотографической съемки земной поверхности. Проведен анализ использования данных теплофизических параметров материалов для идентификации объектов мониторинга; получены численные оценки погрешности определения теплофиПоказать полностьюзических параметров испытуемых материалов, гистограммы распределения теплофизических параметров материалов по данным натурного эксперимента. The article presents a model for calculating the thermophysical parameters of materials according to multispectral multi-temporal photographic survey of the Earth’s surface. The analysis of using data on the thermophysical parameters of materials for the identification of monitoring objects is carried out. The numerical estimates of the errors in determining the thermophysical parameters of the tested materials and distribution histograms of the thermophysical parameters of materials according to the field experimental data are also obtained.
Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Техника и технологии
Выпуск журнала: Т. 13, № 7
Номера страниц: 894-906
ISSN журнала: 1999494X
Место издания: Красноярск
Издатель: Сибирский федеральный университет