Захват дейтерия в наноструктурированном поверхностном слое вольфрама, образованном при высокотемпературном облучении гелиевой плазмой : научное издание

Описание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2020

Идентификатор DOI: 10.31857/S1028096020120067

Ключевые слова: deuterium, helium, Thermal desorption spectroscopy, tungsten, plasma, thermonuclear fusion, дейтерий, гелий, термодесорбционная спектроскопия, вольфрам, плазма, термоядерный синтез

Аннотация: Предварительное облучение образца вольфрама низкоэнергетическими ионами гелия (80 эВ, поток 1021 м–2 · с–1) при температуре 1200–1250 К в установке c индукционным ВЧ-разрядом привело к формированию наноструктурированного поверхностного слоя вольфрама, называемого “пухом”. Затем осуществляли серию отжигов образца и облучение ионами ${\text{D}}_{3} The preliminary irradiation of a tungsten sample with low-energy helium ions (80 eV, flux is 1021 m–2 s–1) at a temperature of 1200–1250 K in an experimental facility with induction RF discharge resulted in the formation of a nanostructured surface layer of tungsten, called “fuzz”. Then, a series of annealing and irradiation with ${\text{D}}_{3}

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Выпуск журнала: 12

Номера страниц: 21-27

ISSN журнала: 10280960

Место издания: Москва

Издатель: Российская академия наук, Институт физики твердого тела РАН

Авторы

  • Арутюнян З.Р. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Огородникова О.В. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Аксенова А.С. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Гаспарян Ю.М. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Ефимов В.С. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Харьков М.М. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Казиев А.В. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)
  • Волков Н.В. (Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”)

Вхождение в базы данных