Reflection electron-energy-loss spectroscopy of FexSi 1 - x thin films : научное издание

Описание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2008

Идентификатор DOI: 10.1134/S1063785008050064

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Technical Physics Letters

Выпуск журнала: Т. 34, 5

Номера страниц: 381-383

ISSN журнала: 10637850

Место издания: Санкт-Петербург

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Персоны

  • Parshin A.S. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Alexandrova G.A. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Dolbak A.E. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Pchelyakov O.P. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Ol’shanetskiĭ B.Z. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Ovchinnikov S.G. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Kushchenkov S.A. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)

Вхождение в базы данных