Перевод названия: METHOD OF DETERMINING ADEQUACY OF MONITORING ELECTRONIC EQUIPMENT IN FAILURE MODE
Тип публикации: патент
Год издания: 2020
Аннотация: Изобретение относится к области вычислительной техники. Техническим результатом является сокращение сроков испытаний при приемлемом уровне полноты контроля объектов испытаний. Раскрыт способ определения достаточности контроля электронной аппаратуры в режиме внесения неисправностей, заключающийся в том, что в проекты программируемых логических интегральных схем (ПЛИС), реализованные на языках описания аппаратуры, намеренно вносят модели неисправностей. Затем проводят испытания с целью оценки вероятности обнаружения внесенных моделей неисправностей испытываемой аппаратурой или программным обеспечением. Испытательные прогоны повторяют многократно, при различных комбинациях активированных неисправностей, при этом объект испытаний (ОИ) функционирует в различных состояниях, определяемых потребностями конечного потребителя. Испытания прекращают, когда соотношение количества испытательных прогонов к количеству обнаруженных неисправностей ОИ становится выше заданного коэффициента или не обнаруживают неисправностей ОИ в течение заданного периода времени. FIELD: computer equipment. SUBSTANCE: invention relates to computer engineering. Disclosed is a method of determining the adequacy of monitoring electronic equipment in fault mode, consisting in that in projects of programmable logic devices (PLD), implemented in languages of description of equipment, intentionally introduce models of faults. Testing is then carried out in order to assess the probability of detecting introduced models of faults with the tested equipment or software. Test runs are repeated many times, with various combinations of activated faults, wherein test object (TO) operates in different states determined by requirements of end consumer. Tests are terminated when the ratio of the number of test runs to the number of detected faults TO becomes higher than the specified coefficient or no faults TO are detected for a given period of time. EFFECT: technical result is reduction of test time at acceptable level of control of test objects. 1 cl