Перевод названия: METHOD OF ESTIMATING PARAMETRIC RESERVES OF OPERABILITY OF ELECTRONIC DEVICES
Тип публикации: патент
Год издания: 2020
Аннотация: Изобретение относится к контролю параметров электронных устройств. Способ оценки параметрических запасов работоспособности электронных устройств, заключающийся в воздействии на электронные устройства совокупностью эксплуатационных факторов по методологии математического планирования эксперимента. Затем определяют значения параметров электронных устройств в каждом опыте и оценки параметрических запасов относительно заданных ограничений как разности между величиной ограничений и полученными значениями параметров. Математическому планированию эксперимента подвергают выборку электронных устройств. Оценивают полученные запасы работоспособности в каждом опыте для каждого образца электронных устройств и, используя полученные результаты, прогнозируют возможные значения запасов работоспособности при массовом производстве электронных устройств по методу толерантных пределов. Прогнозируются значения работоспособности. 1 з.п. ф-лы, 6 ил.<img src="/get_item_image.asp?id=42448608&img=00000007.tif" class="img_big"> FIELD: electronic equipment. SUBSTANCE: invention relates to controlling electronic device parameters. Method of estimating parametric reserves of operability of electronic devices consists in exposing electronic devices to a set of operational factors according to the methodology of mathematical experiment planning. Values of parameters of electronic devices are then determined in each experiment and parametric reserves are evaluated relative to given constraints as difference between value of constraints and obtained values of parameters. Mathematical sampling of the experiments involves sampling electronic devices. Obtained serviceability reserves are evaluated in each experiment for each sample of electronic devices and, using the obtained results, possible values of operability reserves during mass production of electronic devices using the method of tolerant limits are predicted. Validity values are predicted. EFFECT: disclosed is a method of estimating parametric reserves of operability of electronic devices. 1 cl, 6 dwg