Тип публикации: патент
Год издания: 2016
Аннотация: Программа предназначена для проведения теоретических исследований свойств тонких магнитных пленок. Программа позволяет моделировать процессы осаждения частиц на подложку, имитируя рост тонких пленок в высоком вакууме. В программе реализованы статистические методы анализа комплекса осажденных частиц для автоматизированного определенПоказать полностьюия структурных и микроструктурных параметров исследуемых объектов. Программа позволяет рассчитать компоненты тензора размагничивающих факторов и определить параметры магнитной анизотропии моделируемых пленок. Программа может быть использована в НИИ РФ, специализирующихся на исследовании тонкопленочных материалов и создании устройств на их основе.