Перевод названия: Methods of Modern Transmission Electron Microscopy in Material Study
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2009
Ключевые слова: transmission electron microscopy, electron diffraction, X-ray spectrum analysis, просвечивающая электронная микроскопия, дифракция электронов, рентгеноспектральный анализ
Аннотация: На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а тПоказать полностьюакже дифракции электронов. At the example of Al/Au thin films, Pd-Au nanoparticles, carbon nanotubes, and, photonic crystal, the performance capabilities of modern transmission electron microscopy in the studies of microstructure are shown. The application of the methods of high-resolution and analytical transmission electron microscopy, and, electron diffraction is demonstrated.
Журнал: Журнал Сибирского федерального университета. Серия: Химия
Выпуск журнала: Т. 2, № 4
Номера страниц: 294-306
ISSN журнала: 19982836
Место издания: Красноярск
Издатель: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования Сибирский федеральный университет