Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2014
Идентификатор DOI: 10.1134/S0022476614060225
Ключевые слова: магнитоэллипсометрия, эллипсометрические измерения, магнитооптический эффект Керра, тонкие пленки, модель полубесконечной среды, коэффициент преломления, коэффициент поглощения, магнитооптический параметр, magneto-ellipsometry, Ellipsometric measurements, Magneto-optical Kerr effect, thin films, semi-infinite medium model, refraction coefficient, absorption coefficient, magneto-optical parameter
Аннотация: Предложена методика интерпретации магнитоэллипсометрических измерений. Рассмотрена модель однородной полубесконечной среды для отражающих слоистых магнитных структур при наличии магнитного поля в конфигурации магнитооптического экваториального эффекта Керра. На основании анализа коэффициентов Френеля с учетом магнитооптического парПоказать полностьюаметра Q, входящего в недиагональные члены тензора диэлектрической проницаемости, получены выражения, с помощью которых из данных эллипсометрических (? 0 и ? 0) и магнитоэллипсометрических (? 0 + ?? и ? 0 + ??) измерений можно получить значения величин коэффициентов преломления ( n), поглощения ( k), действительной ( Q 1) и мнимой ( Q 2) частей магнитооптического параметра. Полученные результаты позволят с помощью традиционной эллипсометрической аппаратуры измерять и анализировать такие магнитные характеристики, как петли гистерезиса, коэрцитивную силу слоистых наноструктур. The technique for interpreting magneto-ellipsometric measurements is proposed. The model of a homogeneous semi-infinite medium for reflecting layered magnetic structures in the presence of the magnetic field in the configuration of the magneto-optical equatorial Kerr effect is considered. Based on the analysis of the Fresnel coefficients with regard to the magneto-optical parameter Q appearing in the off-diagonal elements of the permittivity tensor, the expressions are obtained using which the refraction ( n) and absorption ( k) coefficients, the real ( Q 1) and imaginary ( Q 2) parts of the magneto-optical parameter can be found from the ellipsometric (? 0 and ? 0) and magneto-ellipsometric (? 0 + ?? and ? 0 + ??) measurements. The results will allow to measure and analyze the magnetic characteristics such as hysteresis loops and the coercitive force of layered nanostructures using the conventional ellipsometric equipment.
Журнал: Журнал структурной химии
Выпуск журнала: Т. 55, № 6
Номера страниц: 1190-1197
ISSN журнала: 01367463
Место издания: Новосибирск
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие Издательство Сибирского отделения Российской академии наук