Полный текст публикации: Characterization of Si/Fe multilayers by electron spectroscopy and small-angle X-ray scattering : научное издание

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1134/S0031918X06130230 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации