Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2019
Идентификатор DOI: 10.1134/S0021364019150098
Аннотация: A method for processing of in situ spectral magneto-ellipsometry data has been developed to analyze planar ferromagnetic nanostructures. A multilayer model containing a ferromagnetic layer with two interfaces, a nonferromagnetic buffer layer, and a nonfer
Журнал: JETP LETTERS
Выпуск журнала: Vol. 110, Is. 3
Номера страниц: 166-172
ISSN журнала: 00213640
Место издания: NEW YORK
Издатель: MAIK NAUKA/INTERPERIODICA/SPRINGER