ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ СТРУКТУРЫ СВЕРХПРОВОДЯЩЕГО КАБЕЛЯ НА ОСНОВЕ СПЛАВА Nb-Ti на наномасштабном уровне : доклад, тезисы доклада

Описание

Перевод названия: INVESTIGATION OF THE STRUCTURAL ELEMENTS OF THE SUPERCONDUCTING CABLE BASED ALLOY Nb-Ti AT THE NANOSCALE LEVEL

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: Техника и технологии - 2014; Брянск; Брянск

Год издания: 2014

Ключевые слова: сверхпроводники, дефекты, микроструктура, локализация пластической деформации, волочение

Аннотация: Исследованы тонкая структура сверхпроводящего сплава Nb-Ti после холодного волочения и промежуточного отжига методами атомно-силовой и просвечивающей электронной микроскопии. Получены данные о наличии диффузионного Nb барьера вокруг волокон Nb-Ti, размещенных в медной матрице, а также о его частичном отсутствии в зоне разрыва кабелПоказать полностьюя. Показано, что метод атомно-силовой микроскопии может быть эффективно использован для качественного и количественного анализа структуры. The fine structure of the superconducting Nb-Ti alloy after cold drawing and intermediate annealing by atomic force and transmission electron microscopy are investigated. The data of a Nb diffusion barrier around the fibers Nb-Ti, placed in a copper matrix, as well as its partial absence of the rupture zone of the cable are observed. It is shown that the method of atomic force microscopy can be effectively used for qualitative and quantitative analysis of the structure.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Техника и технологии - 2014

Номера страниц: 81-85

Издатель: Общество с ограниченной ответственностью "Надежные машины"

Персоны

  • Баранникова Светлана Александровна (Институт физики прочности и материаловедения СО РАН; Национальный исследовательский Томский государственный университет)
  • Шляхова Галина Витальевна (Институт физики прочности и материаловедения СО РАН; Северский технологический институт НИЯУ МИФИ)
  • Зуев Лев Борисович (Институт физики прочности и материаловедения СО РАН; Национальный исследовательский Томский государственный университет)

Вхождение в базы данных