Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2009
Идентификатор DOI: 10.1524/zksu.2009.0003
Ключевые слова: genetic algorithm, global optimisation, structure solution, full-profile fitting
Аннотация: A new approach for automated crystal structure solution and refinement from powder diffraction data based on two-level Genetic Algorithm combined with Rietveld-like DDM method is reported. Application of this method is demonstrated on two samples with previously known crystal structures, and the performance is discussed.
Журнал: ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE
Выпуск журнала: Part1
Номера страниц: 21-26
ISSN журнала: 00442968
Место издания: MUNICH
Издатель: OLDENBOURG VERLAG