Перевод названия: PROBLEM OF ELECTRONIC COMPONENTS BASE TEST FOR SPACE APPLICATION
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2015
Ключевые слова: зависимость, relationship, space industry, classification, defects, reliability, rejection, космическая отрасль, классификация, дефекты, надежность, отбраковка
Аннотация: Представлена проблема разработки программ дополнительных отбраковочных испытаний изделий микроэлектроники. Problem of developing of additional culled test programs of microelectronics products is presented.
Журнал: Актуальные проблемы авиации и космонавтики
Выпуск журнала: Т. 1, № 11
Номера страниц: 365-367
Место издания: Красноярск
Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева