Microwave module for noncontact measurement of semiconductors : доклад, тезисы доклада

Описание

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Crimean Conference Microwave and Telecommunication Technology; Sevastopol, Crimea; Sevastopol, Crimea

Год издания: 2010

Идентификатор DOI: 10.1109/crmico.2010.5631197

Аннотация: Controlled microwave module for sensing of semiconductors is developed. The results of its application for measurement of minority-carrier lifetime in silicon are presented. © 2010.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: KpbiMuKo 2010 CriMiCo - 2010 20th International Crimean Conference Microwave and Telecommunication Technology, Conference Proceedings

Номера страниц: 967-968

Издатель: Без издательства

Персоны

  • Vladimirov V.M. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
  • Konnov V.G. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
  • Markov V.V. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
  • Martynovskiy V.N. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
  • Repin N.S. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)
  • Shepov V.N. (Krasnoyarsk Science Centre SB RAS)

Вхождение в базы данных