Полный текст публикации: Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO2/Si(111) : научное издание
Полный текст публикации: Послойный анализ методом спектроскопии сечения неупругого рассеяния электронов распределения диоксида кремния по толщине в структуре SiO2/Si(111) : научное издание
Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок: