1. Главная
  2. Полный текст публикации: Layer-by-Layer Analysis of the Thickness Distribution of Silicon Dioxide in the Structure SiO2/Si(111) by Inelastic Electron Scattering Cross-Section Spectroscopy : научное издание

Полный текст публикации: Layer-by-Layer Analysis of the Thickness Distribution of Silicon Dioxide in the Structure SiO2/Si(111) by Inelastic Electron Scattering Cross-Section Spectroscopy : научное издание

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1134/S1063782616030179 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации