Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 1995
Аннотация: Методами просвечивающей и высокоразрешающей электронной микроскопии, а также локального рентгеновского микроанализа исследовано образование примесных преципитатов в CdTe, легированном In, после термоотжига и облучения ионами I+ и электронами. Обнаружено, что преципитаты содержат In и представляют собой по данным анализа муарового кПоказать полностьюонтраста соединения In2Te3 и InTe (или In3Te4) в отожженных образцах и InTe в облученных образцах.
Журнал: Физика твердого тела
Выпуск журнала: Т. 37, № 10
Номера страниц: 3115-3123
ISSN журнала: 03673294
Место издания: Санкт-Петербург
Издатель: Наука