Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2007
Аннотация: Исследовались химически осажденные тонкие пленки Co?P с содержанием P 2.5% методами брегговской дифракции рентгеновских лучей, электронной микроскопии и магнитометрическими методами. Было определено, что пленки представляют собой мелкокристаллическую среду, а ориентация кристаллитов в ней зависит от толщины пленки. При толщине меньПоказать полностьюшей, чем 70 нм, пленки имеют некоторую кристаллическую текстуру с преимущественной ориентацией гексагональной оси C кристаллитов перпендикулярно плоскости пленки. При увеличении толщины пленки характер текстуры изменяется и отличается преимущественной ориентацией оси C кристаллитов в плоскости пленки. При толщинах, превышающих 500 нм, текстура усиливается. При этом оси C кристаллитов распределены в плоскости равновероятно. Данные результаты могут быть использованы при создании магнитной среды для продольной и перпендикулярной магнитной записи.
Журнал: Физика металлов и металловедение
Выпуск журнала: Т. 103, № 5
Номера страниц: 493-496
ISSN журнала: 00153230
Место издания: Екатеринбург
Издатель: Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука"