Полный текст публикации: Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) : научное издание
Полный текст публикации: Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO2/Si(100) : научное издание
Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок: