Перевод названия: ON NONPARAMETRIC DIAGNOSIS AND CONTROL OF THE PROCESS OF ELECTRONICS MANUFACTURE
Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2013
Ключевые слова: непараметрические модели, ди-, агностика, оценка Надарая–Ватсона, Non-parametric model, diagnostics, electronics, Priori information, discrete-continuous process, pattern recognition, априорная информация, дискретно-непрерывный процесс, распознавание образов
Аннотация: Рассматривается комплекс задач диагностики электрорадиоизделий (ЭРИ) по данным испытаний неразрушающего контроля. В частности, рассматриваются результаты диагностики некоторых видов интегральных микросхем, транзисторов и диодных матриц. В результате обработки диодных матриц выявлены различные группы годных изделий. Приводятся некотПоказать полностьюорые численные результаты обработки диагностических параметров. В этой связи анализируется задача ведения технологического процесса изготовления ЭРИ заданного качества. Приводятся непараметрические модели дискретно-непрерывных процессов для различных технологических этапов производства. Излагается также последовательность формирования управляющих воздействий для всего технологического цикла. Непараметрические оценки, модели, алгоритмы управления и принятия решений базируются на непараметрических статистиках Надарая–Ватсона. Приводятся конкретные непараметрические модели и алгоритмы, которые могут быть положены в основу при проектировании компьютерных систем диагностики ЭРИ по результатам испытаний неразрушающего контроля, а также при разработке компьютерных систем управления технологическим процессом при изготовлении ЭРИ. The paper examines the problems of electronics diagnosis according to the data of non-destructive control. In particular, the results of some types of integrated circuits diagnostics, transistors and diode matrices are considered. As a result of diode matrices processing, different groups of applicable items were revealed. Some numerical results of diagnostic parameters processing are given. In this context, the task analysis of the technological processes of electronics manufacture of the specified quality is analyzed. The non-parametrical models of discrete-continuous processes for different technological stages of production are given. The sequence of control actions generation for the whole technological cycle is presented as well. The non-parametric estimations, models, algorithms of control and decision-making are based on nonparametric statistics of Nadaray-Watson. The specific non-parametric models and algorithms that can be used as a basis for design of computer systems of diagnostics electronics test results of non-destructive control,as well as in the development of computer control systems of technological process at manufac ture of electronics are given.
Журнал: Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева
Выпуск журнала: № 2
Номера страниц: 70-75
ISSN журнала: 18169724
Место издания: Красноярск
Издатель: Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева