Перевод названия: CELL FOR MEASUREMENT OF DIELECTRIC PARAMETERS OF THIN FILMS OF COMPLEX OXIDES
Тип публикации: патент
Год издания: 2006
Аннотация: p num="26"Изобретение относится к области измерения диэлектрических параметров тонких пленок сложных оксидов, используемых в производстве литий-ионных аккумуляторов. Технический результат изобретения: повышение точности измерения, возможность многократного использования ячеек. Сущность: на подложку из ситала или поликора через фотоПоказать полностьюшаблон способом вакуумного напыления наносят пленочный рисунок электродов из никеля, меди или алюминия в виде гребенчатых электродов. На поверхность контуров наносят пленку сложного оксида. Электроды выполняют из металла, нанесенного на подложку в виде гребенчатых контуров, направленных гребешками навстречу друг другу, вложенных один в другой и покрытых тонкой пленкой толщиной 0,3-0,9 мкм. 2 ил., 3 табл.img src="/get_item_image.asp?id=37978411&img=00000001.TIF" class="img_big"/p p num="27"FIELD: measurement of dielectric parameters of thin films of complex oxides used in manufacture of lithium - ion cells./p p num="28"SUBSTANCE: a film pattern of electrodes of nickel, copper or aluminum in the form of comb-like electrodes is applied onto the supporting structure of glass ceramic or polycor through a mask by vacuum spraying. A film of complex oxide is applied onto the surface of the contours. The electrodes are made of metal applied on the supporting structure in the form of comb-like contours with the combs directed toward one another, inserted one in the other and coated by a thin film 0.3 - to 0.9μm thick./p p num="29"EFFECT: enhanced precision of measurement, provided multiple use of cells./p p num="30"3 ex, 3 tbl, 2 dwg/p