Полный текст публикации: Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers : научное издание

Полный текст не загружен, но возможно он доступен по одной из следующих ссылок:

  1. DOI 10.1134/S1063784214050144 (переход на страницу публикации на сайте издателя)
  2. РИНЦ (eLIBRARY.RU) (справа ссылка «Загрузить полный текст»)
  3. Поиск в Академии Google

Вернуться на страницу публикации