Микроколориметр для измерения коэффициента излучения тонкопленочных высокоотражающих образцов при криогенных температурах

Описание

Перевод названия: Microcolorimeter for measuring the emissivity of thin film high-reflecting samples at cryogenic temperatures

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2018

Идентификатор DOI: 10.26732/2618-7957-2018-3-165-169

Ключевые слова: коэффициент излучения, степень черноты, черное тело, термометр сопротивления, криогенные температуры, высокоотражающие покрытия, emissivity, Blackness Degree, Blackbody, resistance thermometer, cryogenic temperatures, highly reflective coatings

Аннотация: Предложено решение проблемы измерения коэффициента излучения (степени черноты) тонкопленочных высокоотражающих образцов при криогенных и комнатных температурах. Для обеспечения необходимой точности и чувствительности создан тонкопленочный элемент, содержащий платиновый датчик температуры и нагреватель, а также пленка с высоким коэфПоказать полностьюфициентом излучения - модель «черного тела». На базе этих элементов, криостата замкнутого цикла TM AC-V12a фирмы Cryomech (США) и крейтовой системы LTR-EU-8-1 сбора информации с модулями АЦП и ЦАП фирмы L-CARD (Россия) создана установка для измерения теплопередачи между пленочными покрытиями, осуществляемой за счет излучения. Раскрыты способы обработки результатов измерений, осуществляемой при оценке сопротивления платиновых датчиков температуры, которые позволяют производить измерение температуры со среднеквадратическим отклонением 0,001 К. Описаны базовые элементы установки. Описаны проводимые на установке измерения, необходимые для вычисления коэффициента излучения. Приведена методика расчета коэффициента излучения с использованием результатов измерений, проводимых с помощью микрокалориметра.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Космические аппараты и технологии

Выпуск журнала: Т.2, 3

Номера страниц: 165-169

ISSN журнала: 26187957

Место издания: Железногорск

Издатель: Ассоциация Технологическая платформа Национальная информационная спутниковая система

Авторы

Вхождение в базы данных