Reflection electron energy loss spectroscopy of structures based on silicon and transition metals

Описание

Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций

Конференция: International Scientific Conference Reshetnev Readings 2016; Krasnoyarsk; Krasnoyarsk

Год издания: 2017

Идентификатор DOI: 10.1088/1757-899X/255/1/012019

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering

Выпуск журнала: 255

Номера страниц: 012019

Издатель: Institute of Physics Publishing

Авторы

  • Parshin A.S. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)
  • Igumenov A.Y. (Reshetnev Siberian State University of Science and Technology)
  • Pchelyakov O.P. (Rzhanov Institute of Semiconductor Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Zhigalov V.S. (Kirensky Institute of Physics,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)
  • Mikhlin Y.L. (Institute of Chemistry and Chemical Technologies,Siberian Branch,Russian Academy of Sciences)

Вхождение в базы данных